首先,通過統(tǒng)計(jì)一個(gè)國家或地區(qū)專利申請的IPC,可以看出該國家或地區(qū)的主要技術(shù)創(chuàng)新領(lǐng)域。而通過統(tǒng)計(jì)專利申請人和發(fā)明人的IPC,則可以看出該申請人或發(fā)明人的競爭現(xiàn)狀、技術(shù)優(yōu)勢、技術(shù)發(fā)展方向及其側(cè)重點(diǎn)。
其次,結(jié)合年度分析,可以判斷特定技術(shù)的應(yīng)用和發(fā)展態(tài)勢。在統(tǒng)計(jì)某產(chǎn)業(yè)專利申請的IPC分布時(shí),一方面,可以判斷哪些技術(shù)領(lǐng)域是該產(chǎn)業(yè)的關(guān)鍵技術(shù);另一方面,對專利文獻(xiàn)按產(chǎn)業(yè)進(jìn)行統(tǒng)計(jì),還可以方便地看出哪些是即將被淘汰的技術(shù)。












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